7月18日，专门用于3D层析成像和纳米技术应用的超高分辨率X射线成像系统开发商Xradia宣布，该公司生产的一台硬X射线纳米探针仪已运往美国阿贡国家实验室，据称，这台仪器是Xradia公司与阿贡实验室纳米材料中心（CNM）共同建造的。硬X射线纳米探针（NPI）获得的分辨率超过30nm ，采用扫描探针和全场传递X射线显微镜，用于元素和物质结构分析。这台NPI安装在阿贡APS（Advanced Photon Source）硬X射线纳米探针束（ID-26）上。

　　高分辨率X射线显微镜在科学研究及众多工业领域的作用越来越重要，这些领域包括替代能源、半导体研制、生物技术、生命科学及纳米技术和先进材料等。X射线具有的无损穿透性和具有高分辨率显微镜功能的X射线光学仪的结合，将为研究人员和工程师对物质内部结构和属性的认识达到前所未有的水平。

　　阿贡实验室纳米材料中心主任Eric Isaacs博士称NPI将对纳米材料的设计产生革命性的影响。该实验室首席研究员Jorg Maser也对Xradia公司建造这种装备的能力表示了赞誉。