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McCrometer推出Wafer-Cone流量计

发布时间:2008-05-15 作者: 来源: 浏览:958

      生产现场、过程控制与工厂工程师人员发现McCrometer公司推出高度灵活的Wafer-Cone流量计,该产品具有模块化设计功能特点,使其很容易且经济的根据动态流体状况来替换相应流量计元件。

      这种独特的Wafer-Cone流量计依靠具有内置流体状况监测的差分压力技术,可用来获得±0.5%的精度,且重复测试结果达到±0.1%的误差。该款产品设计上适用于液体或气体的监测,且监测占空间尺寸为0.5到6英寸之间,这使其对于包括从天然气气井、小型过程生产线到许多工业基础设施的各种领域来说是完美。

      通过采用自调整流动状况,该Wafer-Cone流量计真正的节省空间。它消除了其它类似DP技术测试中需要大量流量直管的需要,比如锐孔板和文丘里管等。这能安装到管道系统的几乎任何部位,且很容易适用于现有的管道布置改造,并为现场安装带来很好的灵活性,进而节省成本。

 

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