美国贝克曼库尔特公司于2010年第一季度在其专业网站中正式发布新一代的LS系列纳米微米激光粒度分析仪。新的LS 13320 激光粒度仪将继续保持高分辨率的优势，并将测量下限延伸至革命性的17纳米，使得应用静态光散射技术获得有高分辨率保证的纳米尺度分析数据。在新一代的LS 13320当中，添加了Rosin-Rammler 及 Folk & Ward Phi 方法，以作为标准分析方法之外的补充，提供丰富的分析功能。

　　新一代的LS 13320 综合了偏振光强差异专利技术(PIDS)、光纤连接专利、数量众多的检测器、专利的“龙卷风”干法分散技术于一身，将与各应用领域的用户一同分享这个全新的高分辨率与高重现性的分析技术成果。